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单片测量框
    发布时间: 2019-02-22 09:37    

单片测量装置依据国标标准IEC60404-3。上、下磁轭封装必要的初级、次级绕线。整个装置放置于金属箱体内,上磁轭可以打开,以便放置相应尺寸的单片试样,上下磁轭平行放置。根据IEC标准规定,试样放置于上下磁轭之间,机械机构可以保证上磁轭缓慢降低,空气补偿线圈在单独的箱体内,单片测量装置有电流过载保护装置。


单片测量框
单片测量装置SST500 x500技术数据
初级绕线:5x400 =2000, Cu Ø 1.06 mm
次级绕线:1x400 = 400, Cu Ø 1.0 mm
样品尺寸:500x 500 x 1mm
最大样品重量:1.5kg
测量频率:DC, 1Hz-150Hz(0.5mm厚度时)
磁场强度:1A/m-10,000A/m
磁化强度:0.001直到2T(B=2.2T)
单片测量装置尺寸: ca. (W*D*H) 1050*600*1600 mm (无支撑架时,H= 800)
单片测量装置重量: ca. 450 kg
* 依赖于待测电工钢规格
**依赖于待测电工钢特性